EN 60749-10-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击
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时间:2024-05-10 10:29:48
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part10:Mechanicalshock(IEC60749-10:2002);GermanversionEN60749-10:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击
【标准号】:EN60749-10-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;元部件;半导体;气候;试验;冲击试验;气候试验;集成电路;半导体器件;环境试验;破坏试验;电子设备及元件;电学测量;机械试验;电子工程
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Shocktests;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击
【标准号】:EN60749-10-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;元部件;半导体;气候;试验;冲击试验;气候试验;集成电路;半导体器件;环境试验;破坏试验;电子设备及元件;电学测量;机械试验;电子工程
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Shocktests;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语
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